Request a copy

Full Text

• Special issue on Organic Electronics. Chem. Rev. 2007, 107 (4).
• Special issue on Nanostructures. Chem. Rev. 1999, 99 (7).
• Butt, H. J.; Graf, K.; Kappl, M. Physics and Chemistry of Interfaces; Wiley Publisher-VCH: New York, 2003. Adamson, A. W.; Gast, A. P.; Physical chemistry of surfaces, 6th ed.; John Wiley and Sons, Inc.: New York, 1997. Davies, J. T.; Rideal, E. K. Interfacial Phenomena, 2nd ed.; Academic Press: New York, 1963.
• Frank, C. W.; Rao, M.; Despotopoulou, M. M.; Pease, R. F. W.; Hinsberg, W. D.; Miller, R. D.; Rabolt, J. F. Science 1996, 273, 912-915,
• or also. Brodie, I.; Muray, J. J. The Physics of Micro/Nano- Fabrication; Plenum Press: New York, 1992.
• Zimmermann, S.; Wendorff, J. H.; Weder, C. Chem. Mater. 2002, 14, 2218-2223.
• Bernhardt, S.; Kastler, M.; Enkelmann, V.; Baumgarten, M.; Müllen, K. Chem.-Eur. J. 2006, 12, 6117-6128.
• Liu, D. J.; de Feyter, S.; Grim, P. C. M.; Vosch, T.; Grebel-Koehler, D.; Wiesler, U. M.; Berresheim, A.J.; Müllen, K.; de Schryver, F. C. Langmuir 2002, 18, 8223-8230.
• Pisula, W.; Menon, A.; Stepputat, M.; Lieberwirth, I.; Kolb, U.; Tracz, A.; Sirringhaus, H.; Pakula, T.; Müllen, K. Adv. Mater. 2005, 17, 684-689.
• Breiby, D. W.; Bunk, O.; Pisula, W.; Solling, T. I.; Tracz, A.; Pakula, T.; Mullen, K.; Nielsen, M. M. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11288-11293.
• Breiby, D. W.; Hansteen, F.; Pisula, W.; Bunk, O.; Kolb, U.; Andreasen, J. W.; Mullen, K.; Nielsen, M. M. J. Phys. Chem. B. 2005, 109, 22319-22325.
• Pisula, W.; Tomović.; Stepputat, M.; Kolb, U.; Pakula, T.; Müllen, K. Chem. Mater. 2005, 17, 2641-2647.
• Burda, L.; Tracz, A.; Pakula, T.; Ulanski, J.; Kryszewski, M. J. Phys. D: Appl. Phys. 1983, 16, 1737-1740.
• Tracz, A.; Makowski, T.; Masirek, S.; Pisula, W.; Geerts, Y. H. Nanotechnology 2007, 18, 485303.
• Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films from Langmuir-Blodgett to Self-Assembly, Academic Press: San Diego, 1991. Birdi, K. S.;Self-Assembly Monolayer structures of Lipids and Macromolecules at Interfaces, Science, 1999.
• Hoeben, F.; M, J.; Jonkheim, P.; Meijer, E. W.; Schenning, A. P. H. J. Chem. Rev. 2005, 105, 1491-1546.
• Robinson, B. H. Self-Assembly; IOS Press: Amsterdam, 2003.
• Leclere, P.; Surin, M.; Lazzaroni, R.; Kilbinger, A. F. M.; Henze, O.; Jonkheijm, P.; Biscarini, F.; Cavallini, M.; Feast, W. J.; Meijer, E. W.; Schenning, A. P. H. J. J. Mater. Chem. 2004, 14, 1959-1963.
• Leclere, P.; Surin, M.; Viville, P.; Lazzaroni, R.; Kilbinger, A. F. M.; Henze, O.; Feast, W. J.; Cavallini, M.; Biscarini, F.; Schenning, A. P. H. J.; Meijer, E. W. Chem. Mater. 2004, 16, 4452-4466.
• Petty, M. C. Langmuir-Blodgett films: an introduction; Cambridge University Press: Cambridge, 1996. Peng, J. B.; Barnes, G. T.; Gentle, I. R. Adv. Colloid Interface Sci. 2001, 91, 163-219.
• Gates, B. D.; Xu, Q.; Stewart, M.; Ryan, D.; Willson, G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1171-1196.
• Xia, Y.; Friend, R. H. Macromolecules 2005, 38, 6466-6471.
• Tsukruk, V. V. Prog. Polym. Sci. 1997, 22, 247-311.
• Cavallini, M.; Stoliar, P.; Moulin, J. F.; Surin, M.; Leclere, P.; Lazzaroni, R.; Breiby, D. W.; Andreasen, J. W.; Nielsen, M.M.; Sonar, P.; Grimsdale, A. C.; Müllen, K.; Biscarini, F. Nano Lett. 2005, 5, 2422-2425.
• Derue, G.; Coppee, S.; Gabriele, S.; Surin, M.; Geskin, V.; Monteverde, F.; Leclere, P.; Lazzaroni, R.; Damman, P. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 8018-8019.
• Pieranski P.; Oswald P. Les Cristaux Liquides: Concepts et Propriétés Physiques Illustrés par des Expé riences; GB Science Publishers: Paris, 2002; pp 635-660.
• Schmidt-Mende, L.; Fechtenkotter, A.; Moons, E.; Friend, R. H.; MacKenzie, J. D. Science 2001, 293, 1119-1122.
• Viville, P.; Lazzaroni, R.; Bredas, J. L.; Moretti, P.; Samori, P.; Biscarini, F. Adv. Mater. 1998, 10, 57-60.
• Wang, J. Z.; Zheng, Z. H.; Li, H.W.; Huck, W. T. S.; Sirringhaus, H. Nat. Mater. 2004, 3, 171-176.
• Leclere, P.; Calderone, A.; Marsitzky, D.; Francke, V.; Geerts, Y.; Müllen, K.; Bredas, J. L.; Lazzaroni, R. Adv. Mater. 2000, 12, 1042-1046.
• Pisula, W.; Kastler, M.; Wasserfallen, D.; Pakula, T.; Müllen, K. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8074-8075.
• Sergeyev, S.; Pisula, W.; Geerts, Y. H. Chem. Soc. Rev. 2007, 36, 1902-1929.
• Mouthuy, P. O.; Melinte, S.; Geerts, Y. H.; Jonas, A.M. Nano Lett. 2007, 7, 2627-2632.
• van Breemen, A.I.J. M.; Herwig, P. T.; Chlon, C. H. T.; Sweelssen, J.; Schoo, H.F.M.; Setayesh, S.; Hardeman, W. M.; Martin, C. A.; de Leeuw, D.M.; Valeton, J. J. P.; Bastiaansen, C. W. M.; Broer, D. J.; Popa-Merticaru, A. R.; Meskers, S. C. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 2336-2345.
• Lengyel, O.; Hardeman, W. M.; Wondergem, H. J.; de Leeuw, D. M.; van Breemen, A. I. J. M.; Resel, R. Adv. Mater. 2006, 18, 896-899.
• Shklyarevskiy, I. O.; Jonkheijm, P.; Stutzmann, N.; Wasserberg, D.; Wondergem, H. J.; Christianen, P. C. M.; Schenning, A. P. H. J.; de Leeuw, D. M.; Tomovic, Z.; Wu, J. S.; Müllen, K.; Maan, J. C. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 16233-16237.
• De Cupere, V.; Tant, J.; Viville, P.; Lazzaroni, R.; Osikowicz, W.; Salaneck, W. R.; Geerts, Y. Langmuir 2006, 22, 7798-7806.
• Simpson, C. D.; Wu, J.; Watson, M. D.; Müllen, K. J. Mater. Chem. 2004, 14, 494-504.
• Fujihake, H.; Murashige, T.; Sugibayashi, M.; Ohta, K. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3474-3476.
• Tracz, A.; Jeszka, J. K.; Watson, M. D.; Pisula, W.; Müllen, K.; Pakula, T. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1682-1683.
• Miskiewicz, P.; Rybak, A.; Jung, J.; Glowacki, I.; Ulanski, J.; Geerts, Y.; Watson, M.; Müllen, K. Synth. Met. 2003, 137, 905-906.
• Clark, T. D.; Tien, J.; Duffy, D. C.; Paul, K. E.; Whitesides, G.M. J. Am. Chem. Soc 2001, 123, 7677-7682.
• Pisula, W.; Kastler, M.; El Hamaoui, B.; García-Gutiérrez, M.-C.; Davies, R. J.; Riekel, C.; Müllen, K. ChemPhysChem 2007, 8, 1025-1028.
• Rager, C.; Schmid, G.; Hanack, M. Chem.-Eur. J. 1999, 5, 280-288.
• Tant, J.; Geerts, Y.; Lehmann, M.; de Cupere, V.; Zucchi, G.; Laursen, B. W.; Bjørnholm, T.; Lemaur, V.; Marcq, V.; Burquel, A.; Hennebicq, E.; Gardebien, F.; Viville, P.; Beljonne, D.; Lazzaroni, R.; Cornil, J. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 20315-20323.
• Tant, J.; Geerts, Y.; Lehmann, M.; de Cupere, V.; Zucchi, G.; Laursen, B. W.; Bjørnholm, T.; Lemaur, V.; Marcq, V.; Burquel, A.; Hennebicq, E.; Gardebien, F.; Viville, P.; Beljonne, D.; Lazzaroni, R.; Cornil, J. (erratum to document cited in CA144:014471). J. Phys. Chem. B 2006, 110, 3449.
• Als-Nielsen, J.; Mc Morrow, D. Refraction and Reflection from Interfaces. In Elements of Modern X-ray Physics; John Wiley and Sons: Chichester, U.K., 2000; p 61.
• Breiby, D. W.; Bunk, O.; Andreasen, J.W.; Lemke, H.T.; Nielsen, M.M. J. Appl. Crystallogr. 2008, 41, 262-271.
• Gearba, R. I.; Anokhin, D. V.; Bondar, A. I.; Bras, W.; Jahr, M.; Lehmann, M.; Ivanov, D. A. Adv. Mater. 2007, 19, 815-820.
• De Cupere, V.; Heintz, C.; Tant, J.; Geerts, Y. Eur. Pat. Appl. 2006, EP 1722424.
• Turro N. J. Modern Molecular Photochemistry; University Science Books: Mill Valley, CA, 1991; pp 76-148.
• Gearba, R. I.; Bondar, A. I.; Goderis, B.; Bras, W.; Ivanov, D. A. Chem. Mater. 2005, 17, 2825-2832.
• Jenkins, R.; Snyder, R. L. Introduction to X-ray powder diffractometry; Wiley-Interscience Ed., New York, 1996; p 88.
• Mouthuy, P.-O. PhD Thesis, Nanogroove networks for aligning columns of liquid-crystalline phthalocyanines; Louvain-La-Neuve: Belgium, 2009, p 119.