Request a copy

Full Text

• Voinov, O. V. Fluid Dyn. 1976, 11, 714.
• Tanner, L. H. J. Phys. D: Appl. Phys. 1979, 12, 1473.
• Cox, R. G. J. Fluid Mech. 1986, 168, 169.
• Blake, T. D.; Haynes, J. M. J. Colloid Interface Sci. 1969, 30, 421.
• Drelich, J. Colloid Surf. A 1994, 93, 1.
• Andrieu, C.; Sykes, C.; Brochard, F. Langmuir 1994, 10 (7), 2077.
• Drelich, J.; Wilbur, J. L.; Whitesides, G. M. Langmuir 1996, 12 (7), 1913.
• Wiegand, G.; Jaworek, T.; Sackmann, E. J. Colloid Interface Sci. 1993, 196 (2), 299.
• Topolski, K.; Urban, D.; Brandon, S.; De Coninck, J. Phys. Rev. E. 1997, 56, 3353.
• Urban, D.; Topolski, K.; De Coninck, J. Phys. Rev. Lett. 1996,76, 4388.
• Collet, P.; De Coninck, J.; Dunlop, F.; Reignard, A. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 3704.
• Adão, M. H.; de Ruijter, M. J.; Voué, M.; De Coninck, J. Phys. Rev. E 1999, 59, 746
• Cassie, A. B. D. Discuss. Faraday. Soc. 1952, 57, 5041.
• de Ruijter, M. J.; De Coninck, J.; Blake, T. D.; Clarke, A.; Rankin, A. Langmuir 1997, 13, 7293.
• Blake, T. D.; Clarke, A.; De Coninck, J.; de Ruijter, M. J. Langmuir 1997, 13, 2164.
• Ulman, A. An introduction to ultrathin organic films; Academic Press: New York, 1991
• Silberzan, P.; Léger, L. Phys. Rev. Lett., 1991, 66, 185.
• Roberts, G. G.; Pande, K. P.; Balrlow, W. A. Proc. IEEE I 1978, 2, 169.
• Boulas, C.; Davidovits, J.; Rondelez, F.; Vuillaume, D. Microelectron. Eng. 1995, 28, 217.
• Prime, K. L.; Whitesides, G. M. Science 1991, 252, 1164.
• Davidovits, J. V.; Silberzan, P.; Goldman, M. J. Phys. Chem., submitted.
• Broszka, J. B.; Shahidzadeh, N.; Rondelez, F. Nature 1992, 360, 719.
• Schwatrz, D. K.; Steinberg, S.; Israelachvili, J.; Zasadzinski, J. A. N. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 3354.
• Britt, D. W.; Hlady, V. J. Colloid Interface Sci. 1996, 178, 775.
• Azzam, R. M. A.; Bashara, N. M. Ellipsomelry and polarized light; North-Holland: Amsterdam, 1977.
• Tompkins, H. G. A user's guide to ellipsometry; Academic Press: New York, 1993.
• Aspnes, D. E.; Theeten, J. B.; Hottier, F. Phys. Rev. B 1979, 20 (4), 3292.
• Bernoux, F.; Piel, J. P.; Lecat, J. H.; Stehlé, J. L. Tech. Ing. 1990, R6490-1-R6490-16.
• Bruggeman, D. A. G. Ann. Phys. (Leipzig) 1935, 24, 636.
• Voué, M. M. P.; Valignat, G.; Oshanin, A. M.; Cazabat; De Coninck, J. Langmuir 1998, 14, 5951.
• Rusanov, A. I.; Prokhbrov, V. A. Interfacial Tensiometry; Elsevier: Amsterdam, 1996.
• de Ruijter, M. J. A microscopic approach of partial wetting: statics and dynamics. Ph.D. Thesis, Université de Mons-Hainaut, Mons, Belgium, 1998.
• Press, W. H.; Teukolsky, S. A.; Vetterling, W. T.; Flannery, B. P. Numerical Recipes in Fortran, 2nd ed.; Cambridge University Press: Cambridge, U.K., 1992.