Article (Scientific journals)
Investigation of layered microdroplets using ellipsometric techniques
Voué, Michel; De Coninck, Joël; Villette, S. et al.
1998In Thin Solid Films, 313-314, p. 819-824
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Research center :
CRPM - Physique des matériaux
Disciplines :
Physics
Author, co-author :
Voué, Michel ;  Université de Mons > Faculté des Sciences > Laboratoire de Physique des Surfaces et Interfaces
De Coninck, Joël ;  Université de Mons > Faculté des Sciences > Service du Laboratoire de Physique des Surfaces et Interfaces
Villette, S.
Valignat, M. P.
Cazabat, A.M.
Language :
English
Title :
Investigation of layered microdroplets using ellipsometric techniques
Publication date :
05 December 1998
Journal title :
Thin Solid Films
ISSN :
0040-6090
Publisher :
Elsevier, Switzerland
Volume :
313-314
Pages :
819-824
Peer reviewed :
Peer Reviewed verified by ORBi
Research unit :
S877 - Laboratoire de Physique des Surfaces et Interfaces
S878 - Physique des matériaux et Optique
Research institute :
R400 - Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux
Available on ORBi UMONS :
since 05 December 2012

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